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暗潮 第266章 制程路线之争 (上)

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光刻机是晶圆生产线中最为核心的生产设备,发展历程也是经过了数代的更迭。

如果以大规模商业性应用为标准线,大体上看,六十年代是接触式光刻机、接近式光刻机的时代,到七十年代光刻机设备主流更新到了投影式光刻机,八十年代更新到步进式光刻机,九十年代更新到步进式扫描光刻机,新世纪初期浸入式光刻机大行其道。

二十一世纪之后,得益于华人科学家林本坚博士的光刻胶上方加水创意,忽然获得大绝招的ASML以侵入式光刻机一举把日系光刻机厂商从云端打入尘埃,只用了不到几年时间就垄断了全球70%的光刻机市场。

由于光本质是波的缘故,在微观物理世界波长越短的光精度就越高,换句话说光的波长越短,在晶圆上刻下的线就越细。

早期的摩尔定律是预言集成电路密度每年翻倍,直到1975年摩尔定律才改成未来人尽所知的每十八个月。

根据瑞利公式:CD=k1*(λ/NA),其中CD代表着曝光尺寸或者叫做光刻的最小尺寸,比如5.0微米、3.0微米什么的,甚至直接代指晶圆生产线的技术标准,K1代表着干扰降低光刻尺寸的综合因素,比如光刻胶,比如车间环境供电电压等等。

NA代表着镜头的数值孔径这玩意的学术描述比较复杂,简单的说就是NA值越大透光越多分辨率越高。

λ这玩意经过义务九年的都知道,代表着光的波长,在公式中波长越低光刻机的精度就越高。

因此实现摩尔定律的前提就是减小K1、λ的数值,搞大NA的数值。

相比磨镜头这种比较坑爹见效很慢的耐心活,缩短光的波长就成了提升光刻机精度最为直接也最为优先的手段。

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